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標題: PL-2501 Problem [打印本頁]

作者: jessie 時間: 2009-2-17 16:43 標題: PL-2501 Problem

Q:
您好~~
我想請問晶片的第38隻Chip Test mode enable.腳要如何使用呢？
有什麼方法可以測試晶片有無燒壞？
我的晶片是LQ64 Package.
謝謝！

A:
PL-2501晶片的第38隻Chip Test mode enable.腳是晶片出廠測試用
正常使用不必外接任何電路. 可參考應用電路.
至於測試晶片有無燒壞,一般來說先檢查電路有無問題, 再看工作正不正常(空焊,電壓,Clock...). 如果該檢查的都做完了還是不能動,有可能就是損壞了.

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